Dortmunder Werkstoff-Forum
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In-situ Mikroskopie und Tomographie: Probleme und Möglichkeiten

Dr. Andreas Bergner, LOT-QuantumDesign GmbH

Dieser Vortrag gibt einen überblick über aktuelle Entwicklungen und Frage­stellungen im Bereich der in-situ Mikroskopie und Tomographie. Nachdem es in den letzten Jahren eigentlich immer nur um die Frage nach der höchsten Auflösung im Bereich der bildgebenden Technologien ging tritt nun immer mehr der Wunsch nach einer Untersuchung der Probe unter realen externen Stimuli auf. So kann man untersuchen wie sich die Probe z.B. bei einer gewissen Temperatur oder unter einer gewissen Last verhält. Dies lässt dann direkt Rückschlüsse auf den Einsatz der Probe unter realen Bedingungen zu (z.B. Bauteile unter Last, Katalysatormaterial bei realen Temperaturen).

µCT Scan von Speiseeis

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