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Faculty of Mechanical Engineering
Metallography and microscopy

Focused Ion Beam milling with Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM)

Das FIB-REM Crossbeam XB 550L der Firma Zeiss wird im Rahmen des Projekts „Ortsauflösende Charakterisierung von Prozess- und Beanspruchungseinflüssen auf die Struktureigenschaften und darauf basierender Verformungs- und Schädigungsmechanismen heterogener Werkstoffsysteme“ (DFG-Projekt INST 212/402-1 FUGG) betrieben.

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