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Fakultät Maschinenbau
Metallografie und Mikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-REM)

Das FIB-REM Crossbeam XB 550L der Firma Zeiss wird im Rahmen des Projekts „Ortsauflösende Charakterisierung von Prozess- und Beanspruchungseinflüssen auf die Struktureigenschaften und darauf basierender Verformungs- und Schädigungsmechanismen heterogener Werkstoffsysteme“ (DFG-Projekt Nr. 386509496) betrieben.

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Antrag auf Messzeit